미세구조분석

BET (Surface Area and Porosimetry Analyzer, 비표면적/기공분포 측정장치) 신소재융합기기분석센터

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장비 한글명 비표면적/기공분포 측정장치 장비 영문명 BET
모델명 ASAP2020 Plus 제작사 Micromeritics Instruments
도입년도 2017 설치장소 미래혁신관 719호
담당자 김지숙 연락처 e-mail: js@suwon.ac.kr
Tel.: 0312298665
기기이용료
내부 20,000/시료
외부 50,000/시료

* 12시간 초과시 시간당 4,000원 추가 과금
활동분야
일정온도에서 기체의 압력을 변화시켜 가면서 고체 표면에 흡착한 기체의 양을 측정함으로서 재료의 비표면적을 분석
원리 및 특징
질소가스 흡착방식으로 비표면적 및 기공분포 측정
기본사양
Pressure Measurement: 0 to 950 mmHg
Resolution: Up to 1 x 10-7 torr (0.1 mmHg transducer)
Accuracy: > 0.15% of reading
Degas System: Ambient to 450 °C, 1 °C increments

SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy, 주사전자현미경) 신소재융합기기분석센터

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장비 한글명 전자주사현미경 장비 영문명 SEM-EDX
모델명 APREO 제작사 FEI
도입년도 2017 설치장소 미래혁신관 727호
담당자 김지숙 연락처 e-mail: js@suwon.ac.kr
Tel.: 0312298665
기기이용료
내부 Imaging: 40,000/시간, EDS: 10,000/Point, Coating: 10,000/시료
외부 Imaging: 80,000/시간, EDS: 30,000/Point, Coating: 20,000/시료
활동분야
고해상도를 요구하는 재료의 국부 영역의 상 관찰
EDX를 이용한 화학 성분 분석 가능
원리 및 특징
전자빔을 이용한 현미경으로 금속, 무기물질, 고분자의 표면과 단면구조를 분석하는 장비로써 표면구조의 3차원적 image 를 제공한다. 조직을 간단한 시편 제작으로 쉽게 관찰할 수 있고, 재료의 정보를 간단하게 알려준다.
기본사양
Resolution standard: 1.3nm @ 1kV, 1.0nm @ 1kV (beam decal., T3)
Landing energy range: 20eV ~ 30ke
Stage range: 110x110x65mm(x,y,z), -15º~90º tilt
Accessory: EDX, Pt coater